产品中心
Product Center
热门搜索：
美国EDAX能谱仪
EP6美国 Cascade Microtech EP6探针台
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄罗斯产全功能扫描探针原子力显微镜
PLD/Laser-MBE脉冲激光沉积/分子束外延联用系统
石英/硅/聚合物模板高分辨率纳米压印模板（Mold for nanoimprint lithography）
纳米团簇束流沉积系统
iNano高精度台式纳米压痕仪
Zeta-20三维光学轮廓仪
主动隔振台ARISTT
P7晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
P170全自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
Solver P47俄罗斯产高性价比扫描探针显微镜原子力
ET4000日本Kosaka轮廓仪（台阶仪）
Lumina光学表面缺陷分析仪
Profilm 3D经济三维光学轮廓仪 可测样
Alpha-Step D-300/500 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。Alpha-Step台阶仪光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。 探针测量技术的优点是它是直接测量，与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行测量。通过测量粗糙度和应力，可对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的任何变化。
更新时间：2024-06-17
产品型号：D-300 D500
浏览量：2476
当前位置：
