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三维光学轮廓仪

简要描述:非接触式优点就是测量装置探测部分不与被测表面的直接接触,保护了测量装置,同时避免了与测量装置直接接触引入的测量误差。
Zeta-20三维光学轮廓仪集成了六种光学计量技术。 ZDot 测量模式同时采集高分辨率 3D 扫描和真彩色无限对焦图像。其他测量技术包括白光干涉法、Nomarski 干涉对比显微镜和剪切干涉法。 Zeta-20 也可用于样品审查或自动缺陷检测。

  • 产品型号:Zeta-20
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-04-18
  • 访  问  量:686
详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产品种类非接触式轮廓仪/粗糙度仪产地类别进口
应用领域医疗卫生,电子,航天,汽车,综合

Zeta-20 三维光学轮廓仪的典型应用:

•MEMS(微机电系统)

•光伏太阳能电池

•微流体设备

•数据存储磁盘倒边

•激光打孔

•半导体晶圆级芯片级封装

应用.png


多功能光学测试模组

•特有ZDot点阵三维成像技术与强大的算法相结合,轻易获得各种样品表面信息生成高分辨率 3D 数据。

•ZIC 干涉反衬成像技术,实现纳米级粗糙度表面的成像及分析。

•ZSI 白光差分干涉技术,垂直方向分辨率可达埃级。

•ZX5 白光干涉技术,大视场下纳米级高度的理想测量技术。

•ZFT 反射光谱膜厚分析技术,集成宽频反射光谱分析仪,可测量 薄膜材料的厚度、折射率和反射率。

Zeta-20三维光学轮廓仪优点:

•多功能——能够在任何表面上进行多次测量

•特定应用软件和算法

•对振动和样品倾斜不敏感

•高光通量设计——实现其他系统无法进行的测量

•易于使用——用户可以快速启动和运行

混合反射率表面测量:在太阳能电池表面氮化物涂层上的银。银反射率大于90%,氮化物反射率小于1%,两者反射率差非常大,Zeta-20高动态范围可轻松测量混合反射率表面。

微信截图_20220309152905.png

在微机电系统上进行亚微米级台阶高度测量:可实现大面积高分辨率测量。

分析防伪透明特征:可在混合、不平整的表面上进行准确的 3D 轮廓分析(图中是人民币20元防伪标志)


光刻胶和金属的台阶测量:ZDot 的多模式*地实现了金属台阶和薄膜厚度的同时测量。



激光切割:测量 LED 设备上激光切割的深度。在非常低的对比度,高粗糙度的表面测量。 测量空腔边缘的材料堆积,以确定它是否已流出划线区域并流入 LED 器件的有源 区域。











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