产品中心
Product Center
热门搜索：
美国EDAX能谱仪
EP6美国 Cascade Microtech EP6探针台
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄罗斯产全功能扫描探针原子力显微镜
主动隔振台ARISTT
Zeta-20三维光学轮廓仪
石英/硅/聚合物模板高分辨率纳米压印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度台式纳米压痕仪
PLD/Laser-MBE脉冲激光沉积/分子束外延联用系统
纳米团簇束流沉积系统
P170全自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
P7晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
Solver P47俄罗斯产高性价比扫描探针显微镜原子力
Profilm 3D经济三维光学轮廓仪 可测样
Lumina光学表面缺陷分析仪
ET4000日本Kosaka轮廓仪（台阶仪）
Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。
更新时间：2024-06-17
产品型号：Lumina
浏览量：3537
当前位置：
